EN 60749-2-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 23:36:24  浏览:9029   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part2:Lowairpressure(IEC60749-2:2002);GermanversionEN60749-2:2002
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
【标准号】:EN60749-2-2002
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:热学;元部件;半导体;大气压;易燃性;环境;半导体器件;温度变化;外观检查(试验);集成电路;耐力;电气工程;气候试验;电子工程;温度;气候;试验;环境试验;密封性;潮气;机械试验;电学测量;尺寸;电子设备及元件
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:英语